Рентгенов дифрактометър (XRD)

PANalytical X’Pert PRO MPD

PANalytical X’Pert PRO MPD Рентгенова дифрактометър (XRD)

Извадка от сервизния доклад:
Уред: PANalytical X’Pert PRO MPD
Дата на изготвяне: 07.07.2021
Извършени дейности:
- Повторно сглобяване и въвеждане в експлоатация на системата
Gbsdpfxowycatj Acuou
- Свързване на външни захранващи линии
- Фаза на загряване
- Пълно калибриране на гониометъра и допълнителни компоненти
- Извършена поддръжка, включително подмяна на дефектни части
Използвани резервни части:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 АКУМУЛАТОРНА БАТЕРИЯ NI-CD
ВЕНТИЛАТОР ЗА МОДУЛ X-CELERATOR FAN
ФИЛТЪР, ВОДЕН ФИЛТЪР
Мотор PW3050
(„Уредът не е тестван в нашата лаборатория“)

X’Pert PRO MPD е многофункционален и мощен рентгенов дифрактометър (XRD)
за структурна характеристика на кристални материали – перфектен както за фундаментални изследвания, така и за рутинни приложения в индустрията и университетите. Благодарение на модулната си конструкция, бързо детектиране, контрол на температура и атмосфера, системата е отличен избор както за рутинни анализи, така и за сложни in-situ експерименти.

Основни характеристики:
Разнообразни геометрии на измерване:
- Рефлексия в Bragg-Brentano (θ–2θ) режим
- Измервания в трансмисионна геометрия за прахове в капиляри
- Възможност за SAXS (малкоъглово рентгеново разсейване) за наноструктури

Източници на излъчване и детектори:
- Стандартно медна анода (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
- X’Celerator детектор (1D, ултра-бърз) за паралелно събиране на данни

Модулна система с PreFIX технология:
- Бърза смяна на оптика и пробна маса без прекалибриране

In-situ измервания при високи температури:
- Измервания до около 1200°C
- Контролирана атмосфера: въздух, азот, кислород (ограничено редуцираща)

Типични приложения:
- Фазов анализ и количествена Rietveld-оценка
- Оценка на размер на кристалити, микронапрежения, вътрешни напрежения
- Ин-ситу изследвания на фазови преходи, окисление, кристализация и др.
- SAXS-измервания за анализ на наночастици, порести структури
- Широк спектър проби: прахове, тънки филми, керамика, фармацевтични продукти, катализатори и др.

Технически параметри (типични):
Свойство и спецификация
- Ъглов обсег (2θ): около 0,5° до 150°
- Стъпка на сканиране до 0,002° или по-фина
- Гониометър: вертикален, 0–0, радиус около 240 мм
- Температурен диапазон: стайна температура до около 1200 °C
- Атмосфера: въздух, N₂, O₂ (ограничено редуцираща)
- Детектори: X’Celerator (1D), пропорционален брояч

Обхват на приложение и използване:
X’Pert PRO MPD се използва по целия свят, напр. в:
- Университети (ETH Zurich, TU Dresden, University of Vienna)
- Изследователски институти (напр. Max-Planck-Institute, ICN2, IS2M)
- Индустрия (напр. материалознание, фармация, химия)

Състояние: употребяван
Доставя се: (виж снимките)
(Техническите данни и спецификациите подлежат на промени и грешки!)

За повече въпроси сме на разположение по телефона.

Обявата е преведена автоматично и може да има някои грешки в превода.